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中圖儀器光學輪廓儀W系列采用光學干涉技術、精密Z向掃描模塊和3D重建算法組成測量系統，保證測量精度高。能夠以優于納米級的分辨率，測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數。

中圖儀器SuperViewW1光學檢測設備輪廓儀主要是用于測量表面形貌或測量表面輪廓尺寸，此外具有測量晶圓翹曲度的功能，非常適合晶圓，太陽能電池和玻璃面板的翹曲度測量，應變測量以及表面形貌測量。可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

中圖儀器SuperViewW系列高精密光學輪廓儀由照明光源系統，光學成像系統，垂直掃描系統以及數據處理系統構成。以白光干涉技術為原理，能夠以優于納米級的分辨率，測試各類表面并自動聚焦測量工件獲取2D，3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數，是一款非接觸測量樣品表面形貌的光學測量儀器。

SuperViewW1半導體光學輪廓測量儀器用于表面形貌紋理，微觀結構分析，用于測試各類表面并自動聚焦測量工件獲取2D，3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數，廣泛應用于光學，半導體，材料，精密機械等領域。是以白光干涉技術為原理，能夠以優于納米級的分辨率，非接觸測量樣品表面形貌的光學測量儀器。

SJ5760-PR輪廓尺寸測量儀器測量精度高，量程大，測量速度快，智能化應用與檢定軟件相結合，保護測針和測量系統，儀器操作靈活自如，可以大大提高測量工作效率。是一款集成表面粗糙度和輪廓測量的測量儀器。

中圖儀器SJ5700尺寸輪廓測量儀具有精度高，量程大，測量速度快等特點。智能化應用與檢定軟件相結合，保護測針和測量系統，儀器操作靈活自如，可以大大提高測量工作效率。測量效率高、操作簡單、適用于車間檢測站或計量室使用。