解鎖微觀測(cè)量新境界:光學(xué)3D輪廓儀與共聚焦顯微成像的結(jié)合應(yīng)用
2025-06-13 在當(dāng)今科技飛速發(fā)展的時(shí)代,眾多行業(yè)正朝著精細(xì)化、微型化的方向大步邁進(jìn)。當(dāng)芯片上的晶體管小到肉眼不可見(jiàn),當(dāng)手機(jī)攝像頭鏡片需要納米級(jí)平整度,傳統(tǒng)測(cè)量工具還能扛得住嗎?在這樣的行業(yè)大背景下,SuperViewWT3000復(fù)合型光學(xué)3D表面輪廓儀創(chuàng)新性地集成了白光干涉儀和共聚焦顯微鏡兩種高精度3D測(cè)量?jī)x器的性能特點(diǎn),為微觀測(cè)量領(lǐng)域帶來(lái)了的變化。集成帶來(lái)的測(cè)量靈活性飛躍傳統(tǒng)單一測(cè)量設(shè)備要么精度不足,要么無(wú)法兼顧復(fù)雜結(jié)構(gòu)。而SuperViewWT3000白光干涉儀+共聚焦顯微鏡雙模式融合...一鍵式快速尺寸測(cè)量?jī)x的測(cè)量步驟及注意事項(xiàng)
2025-05-27 一鍵式快速尺寸測(cè)量?jī)x是一種高效、便捷的測(cè)量設(shè)備,采用新型圖像影像測(cè)量技術(shù),通過(guò)大視野大景深、高數(shù)值孔徑、低畸變雙遠(yuǎn)心鏡頭,將被測(cè)物體的影像輪廓縮小后傳遞到高分辨率CMOS相機(jī)上做數(shù)字化處理。隨后,由具備強(qiáng)大計(jì)算能力的后臺(tái)繪圖測(cè)量軟件按照預(yù)先設(shè)置好的編程指令,快速抓取產(chǎn)品輪廓,并與相機(jī)微小像素點(diǎn)形成的標(biāo)尺進(jìn)行比對(duì),從而計(jì)算出產(chǎn)品尺寸及尺寸公差。一鍵式快速尺寸測(cè)量?jī)x的測(cè)量操作步驟:1、放置工件將待測(cè)工件平穩(wěn)放置在測(cè)量臺(tái)上,確保工件表面與測(cè)量臺(tái)平行(避免傾斜)。對(duì)于小型工件,可使用...一鍵式快速尺寸測(cè)量?jī)x其有著怎樣的特點(diǎn)呢?
2025-05-25 一鍵式快速尺寸測(cè)量?jī)x是一種高效、便捷的測(cè)量設(shè)備,采用新型圖像影像測(cè)量技術(shù),通過(guò)大視野大景深、高數(shù)值孔徑、低畸變雙遠(yuǎn)心鏡頭,將被測(cè)物體的影像輪廓縮小后傳遞到高分辨率CMOS相機(jī)上做數(shù)字化處理。隨后,由具備強(qiáng)大計(jì)算能力的后臺(tái)繪圖測(cè)量軟件按照預(yù)先設(shè)置好的編程指令,快速抓取產(chǎn)品輪廓,并與相機(jī)微小像素點(diǎn)形成的標(biāo)尺進(jìn)行比對(duì),從而計(jì)算出產(chǎn)品尺寸及尺寸公差。一鍵式快速尺寸測(cè)量?jī)x的主要特點(diǎn):1、快速測(cè)量一鍵操作:只需放置工件、按下啟動(dòng)鍵,儀器即可自動(dòng)完成測(cè)量并輸出結(jié)果,無(wú)需復(fù)雜手動(dòng)調(diào)整。秒級(jí)響...wafer晶圓幾何形貌測(cè)量系統(tǒng):厚度(THK)翹曲度(Warp)彎曲度(Bow)等數(shù)據(jù)測(cè)量
2025-05-23 晶圓是半導(dǎo)體制造的核心基材,所有集成電路(IC)均構(gòu)建于晶圓之上,其質(zhì)量直接決定芯片性能、功耗和可靠性,是摩爾定律持續(xù)推進(jìn)的物質(zhì)基礎(chǔ)。其中晶圓的厚度(THK)、翹曲度(Warp)和彎曲度(Bow)是直接影響工藝穩(wěn)定性和芯片良率的關(guān)鍵參數(shù):1、厚度(THK)是工藝兼容性的基礎(chǔ),需通過(guò)精密切割與研磨實(shí)現(xiàn)全局均勻性。2、翹曲度(Warp)反映晶圓整體應(yīng)力分布,直接影響光刻和工藝穩(wěn)定性,需通過(guò)退火優(yōu)化和應(yīng)力平衡技術(shù)控制。3、彎曲度(Bow)源于材料與工藝的對(duì)稱性缺陷,對(duì)多層堆疊和封裝...掃描電鏡:打開(kāi)微觀世界的“超維相機(jī)“,科學(xué)家如何用它破解納米謎題?
2025-05-23 當(dāng)你用手機(jī)拍攝一朵花的微距照片時(shí),放大100倍已足夠驚艷。但如果告訴你,科學(xué)家手中的"相機(jī)"能將物體放大百萬(wàn)倍,連病毒表面的蛋白突觸都清晰可見(jiàn),你是否會(huì)好奇這背后的黑科技?這把打開(kāi)微觀宇宙的鑰匙,正是掃描電子顯微鏡(SEM)。SEM的"超能力"從何而來(lái)?傳統(tǒng)顯微鏡受限于可見(jiàn)光波長(zhǎng),放大極限止步于200納米。而掃描電鏡利用高能電子束作為"探針",通過(guò)電磁透鏡操控電子軌跡,突破衍射極限,分辨率可達(dá)1納米以下。CEM3000掃描電鏡桌面化設(shè)計(jì)讓實(shí)驗(yàn)室“去中心化”。其70000倍成像...關(guān)注公眾號(hào),了解最新動(dòng)態(tài)

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